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2026/1/19 2:27:31 网站建设 项目流程

DUT测试异常怎么破?一套让新手少走弯路的实战诊断框架

你有没有遇到过这样的场景:产线突然报警,DUT(被测设备)批量fail,测试通过率从98%暴跌到70%,领导催着要根本原因,而你盯着示波器抓耳挠腮——到底是芯片坏了?夹具接触不良?还是程序写错了?

别慌。这几乎是每个测试工程师都会经历的“成长阵痛”。

在电子产品的研发和量产中,DUT测试不是“能不能用”的简单判断,而是对整个系统稳定性的压力测试。一旦出现异常,问题可能藏在任何一个环节:从一颗氧化的探针、一段松动的接线,到一行错误的配置代码。

很多新人面对这类问题时容易“凭感觉调”,比如换个电源试试、重启下上位机、再烧一次固件……这种“盲人摸象”式的排查方式不仅效率低,还容易误判,把系统问题当成DUT缺陷,白白报废良品。

今天我们就来拆解一套真正实用的DUT测试异常定位方法论——不讲空话,只讲你在现场能立刻用上的思路与技巧。


一、先问自己五个关键问题:别急着动手,先搞清楚“谁背锅”

当测试台报错时,第一反应不该是换DUT或重测,而是冷静下来问清楚五个灵魂拷问:

  1. 是不是所有DUT都出问题?
    - 如果只有个别fail → 优先怀疑DUT本身;
    - 如果批量fail → 测试系统或环境更值得怀疑。

  2. 同一个DUT反复测试结果一致吗?
    - 稳定fail → 故障可复现,便于追踪;
    - 偶发性pass/fail → 很可能是接触不良、温漂或干扰。

  3. 换一个测试通道/工位还能复现吗?
    - 换了之后正常 → 原通道有问题(如夹具、线缆);
    - 换了也一样 → 更倾向共性因素(程序、供电、参考源)。

  4. 拿一个已知良品DUT去测,会不会fail?
    - 良品也fail → 明确指向测试系统;
    - 良品ok → 原DUT大概率有问题。

  5. 最近有没有改过测试程序或硬件连接?
    - 版本更新后才出问题 → 回滚验证是否为软件引入;
    - 新换了夹具/探针卡 → 检查安装精度与阻抗匹配。

这五问看似简单,却是快速缩小故障域的核心逻辑工具。记住:先分清是“DUT的问题”还是“我们测错了”,方向错了,越努力越南辕北辙。


二、夹具不是配角:90%的间歇性异常,根源在这里

很多人觉得夹具就是个“托盘+弹簧针”,其实它是整个测试链中最脆弱的一环。

尤其是高频信号、小电流测量(比如漏电测试)、音频通路这类对阻抗敏感的应用,哪怕多出几十毫欧的接触电阻,都可能导致数据失真。

典型翻车案例回顾:

某项目做MCU待机电流测试,标称值应为2μA,但实测普遍偏高至8~15μA。团队一度怀疑芯片批次老化,直到有人用四线法测量夹具通路,发现GND路径接触电阻高达1.8Ω!原来是一个Pogo Pin压合不到位,导致采样电压抬升,ADC误读。

🔍关键认知升级
夹具不是“通就行”,它必须满足:
- 接触电阻 < 50mΩ(理想状态)
- 支持自清洁结构(带刮擦动作的探针)
- 关键信号冗余接触(双Pin并联防单点失效)

实战检查三步法:

  1. 目视 + 手感检查
    - 是否有探针弯曲、断裂?
    - 弹力是否均匀?按下去有没有“卡顿”感?
    - 表面是否有氧化、助焊剂残留?可用异丙醇棉签轻擦。

  2. 四线法测阻抗
    使用开尔文夹或精密万用表,直接测量DUT端子到仪器接口的实际通路电阻。特别注意电源回路和模拟地路径。

  3. 替换验证
    拿备用夹具换上去跑一轮测试。如果问题消失,不用再猜——就是它!

💡 小建议:给每套夹具建立“寿命档案”,记录压合次数。一般Pogo Pin寿命5万~10万次,超期服役务必列入预防性维护计划。


三、电源不是“只要亮就行”:纹波、跌落、噪声都在悄悄毁掉你的测试

你以为给DUT供了个3.3V就万事大吉?错。真正的考验在上电瞬间。

很多DUT功能异常,其实是电源没挺住加载冲击,导致内部LDO跌落、PLL失锁、甚至触发UVLO(欠压锁定)自动复位。

必须关注的几个参数:

参数合理范围影响
输出精度±0.5%以内ADC基准不准、比较器误判
负载调整率<10mV变化动态负载下电压波动
纹波噪声<10mVpp干扰模拟电路、增加底噪
上升时间<10ms防止复位异常或时序错乱

怎么查?两个动作就够了:

  1. 用示波器抓上电波形
    探头接地尽量短,观察启动瞬间是否有明显跌落或振荡。重点关注CPU、RF模块等大电流单元启动时的表现。

  2. 写个自动化巡检脚本
    定期读取SMU(源测单元)的实际输出值,判断电源健康度。

import pyvisa import time def power_rail_health_check(resource_str, target_v=3.3, limit_i=0.5): rm = pyvisa.ResourceManager() psu = rm.open_resource(resource_str) # 设置输出 psu.write(f"APPLy {target_v}, {limit_i}") psu.write("OUTPut ON") time.sleep(0.5) # 等待稳定 v_meas = float(psu.query("MEAS:VOLT?")) i_meas = float(psu.query("MEAS:CURR?")) print(f"[电源检测] 设定:{target_v}V | 实测:{v_meas:.3f}V | 电流:{i_meas:.3f}A") if abs(v_meas - target_v) > 0.1: print("⚠️ 电压偏差超标!请检查负载或线路压降") return False return True

这个脚本可以集成进每日开机自检流程,提前发现潜在风险。


四、通信失败?别只看代码,先看看“线”通不通

I²C、SPI、UART这些协议天天用,但一旦通信失败,很多人第一反应是“DUT没响应”,然后就开始刷固件、改地址、调波特率……

冷静!先确认物理层是不是健康的。

I²C最常见三大坑:

  1. 没有上拉或上拉电阻太大/太小
    - 标准是1kΩ~10kΩ之间,具体取决于总线电容;
    - 用万用表量SCL/SDA对VDD的电压,应该接近电源值(否则无上拉)。

  2. 总线电容超标导致边沿变缓
    - 示波器看上升沿,若超过1μs就要警惕;
    - 长线缆、多个设备挂载都会增加分布电容。

  3. ACK缺失 ≠ DUT坏
    - 可能是地址错了(注意7位/8位格式)、DUT未唤醒、I²C控制器未使能。

快速验证DUT是否在线的小函数(STM32 HAL库为例):

uint8_t i2c_ping_device(I2C_HandleTypeDef *hi2c, uint8_t dev_addr) { // 发起一次空写操作,仅检测ACK HAL_StatusTypeDef status; status = HAL_I2C_Master_Transmit(hi2c, (dev_addr << 1), NULL, 0, 100); return (status == HAL_OK) ? 1 : 0; }

只要返回成功,说明至少I²C链路通了,DUT能应答。接下来再查数据内容是否正确。

进阶手段:逻辑分析仪抓包

与其靠猜,不如直接看通信帧。推荐使用Saleae或DSView这类支持协议解析的工具,一键解码I²C/SPI/UART,看清每一帧的数据、ACK/NACK、停止条件。

你会发现,很多时候所谓的“通信失败”,其实是主机发错了命令、DUT还没初始化完成就被读取……


五、固件版本不对?测试前的第一道防火墙

曾有个项目,新旧两版PCBA混线生产,测试程序却统一用新版流程去验旧版DUT,结果大量报“寄存器读取失败”。查了半天硬件,最后才发现是固件ID不匹配。

所以,在任何测试开始之前,必须加入身份认证环节

推荐做法:

  1. 读取唯一ID或固件版本号
    ```python
    import serial

def verify_dut_identity(port, expected_ver=”V1.2.3”):
ser = serial.Serial(port, 115200, timeout=2)
ser.write(b”GET_VERSION\n”)
resp = ser.readline().decode().strip()
ser.close()

if resp.startswith("VERSION:"): ver = resp.split(":")[1] if ver == expected_ver: print(f"✅ 固件版本匹配:{ver}") return True else: print(f"❌ 版本不符!期望:{expected_ver}, 实际:{ver}") return False else: print("❌ 无法获取版本信息,请检查通信") return False

```

  1. 结合JTAG/SWD读芯片ID
    使用ST-Link、J-Link等工具读取STM32、NXP等MCU的UID,防止物料错贴。

  2. 配置文件绑定型号
    不同产品共用同一测试平台时,确保加载正确的校准参数、限值模板、通信协议定义。


六、构建属于你的标准化诊断流程图

别等到出事才临时想办法。提前画好这张DUT异常定位决策树,打印贴在工位旁,让每个人都能快速上手。

开始 │ 观察异常现象 │ ┌─────────────┴─────────────┐ ▼ ▼ 所有DUT都fail? 个别DUT fail? │ │ 是 否 │ │ ┌────────┴────────┐ ┌─────────┴─────────┐ ▼ ▼ ▼ ▼ 换良品DUT测试? 检查程序变更 重测稳定性 检查该DUT历史数据 │ │ │ │ 否 是 不稳 稳 │ │ │ │ 是 回滚验证 偶发故障 单体问题 │ │ │ │ ▼ ▼ ▼ ▼ 问题在测试系统 ─→ 检查夹具 → 清洁/更换 → 加强过程控制 ↓ 检查电源 → 实测电压/纹波 ↓ 检查通信链路 → 抓包分析 ↓ 定位根因 → 闭环处理

这套流程不需要高深知识,胜在结构清晰、可执行性强,特别适合新人快速建立系统思维。


七、那些老工程师不说,但你必须知道的经验之谈

  1. 不要迷信“上次没问题”
    昨天正常的不代表今天也正常。温度变化、设备老化、人为误操作都可能让系统悄然偏离状态。

  2. 日志比记忆可靠
    所有测试数据、环境参数(温湿度)、操作记录都要结构化存储,方便后期追溯趋势。建议包含字段:timestamp,dut_id,test_item,raw_data,result,operator,fixture_id

  3. 设置合理的容差窗口
    别追求“绝对精确”。允许±2σ内的波动,启用SPC(统计过程控制)监控长期趋势,比抓单次超差更有意义。

  4. 每天开工前做一次系统自检
    自动校准仪器、检测夹具通断、运行一次标准DUT作为基准对照,能把80%的问题挡在正式测试之前。

  5. 复杂板级引入边界扫描(Boundary Scan)
    对于高密度BGA、无法飞针测试的PCBA,使用JTAG配合IST(In-System Test)技术进行开短路检测,大幅提升故障覆盖率。


写在最后:测试的本质,是构建信任

DUT测试不只是“挑毛病”,更是在人与机器之间建立一种可信的对话机制

当你能准确说出“这次fail是因为夹具第17号探针接触不良”,而不是含糊地说“可能是芯片问题”,你就已经超越了大多数初级工程师。

掌握这套诊断框架的意义,不在于解决某一个问题,而在于培养一种系统性思考的能力:把模糊的现象转化为可测量、可验证、可重复的工程事实。

下次再遇到DUT异常,不妨深呼吸一下,拿出这张清单,一步步来。

毕竟,所有复杂的故障,都是由一个个简单的错误叠加而成的;而所有高效的排查,也都始于清晰的逻辑。

如果你也在测试中踩过哪些“神坑”,欢迎留言分享,我们一起避雷前行。

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